随着现在科学技术的发展，工序能力指数(C：K)评价技术的用途越来越广泛，它主要用在工艺线上，是对工艺线上各工序的能力进行评价。这是因为只有在生产的产品成品率很高的条件下，才能生产出高可靠性的产品，所以运用它是可以达到控制产品的成品率的一种先进方法。该技术的应用可以使产品的可靠性得到有力的保证，而在可靠性试验中应用该技术也会进一步验证试验的内在影响。
工序能力评价指数是评价工艺线是否具备生产质量好、可靠性高的元器件要求的工艺水平的指标。可靠性试验是为检验和保证电子元器件的质量与可靠性而进行的各种试验，是按照试验方法和条件，对电子元器件进行的试验。但是由于在传统的试验中只是按照要求进行试验，通过试验确认其失效与否，而对于试验通过的样品就认为它已经满足要求，并没有做进行更深角度的分析，也就是没有从工序能力方而对其进行评价，因而就不能全而正确的对其的可靠性进行评价。
在可靠性试验中引入工序能力评价C：的技术，通过对试验前后电子元器件的工序能力进行评价、比较，得出更为详细的元器件的内在工序能力的变化，从而能更全而地了解试验对电子元器件的可靠性产生的影响。根据C：、技术评价的方法和要求，结合试验的具体情况和特点，我们制定了C：、评价技术在可靠J哇试验中应用的一些具体实施步骤，按照这些步骤可以对电子元器件的可靠性试验进行评价。
一、实施步骤
1、确定关键工序
对电子元器件的可靠性试验实施评价，首先必须确定实施统计质量控制和评价的关键工序。电子元器件是由各个工序组成的，而可靠性试验对电子元器件的影响，要通过几个关键工序来反映。只有确定了关键工序，就可以更好地了解试验的影响。这里的关键工序是指对最终产品特征可靠性有影响的工序，如密封、键合、产品的综合工序等。
2、确定关键工艺参数
关键工艺参数是指既能全而反映关键工序状态，又适合于数据采集的工艺参数。通过对这些参数进行评价，来确定该工序水平，进而评价试验对该工序的影响，如密封工序可采用的工艺参数是漏率、键合可采用的工艺参数是键合拉力等。
3、可靠性试验
电子元器件在正常的生产检验过程中，需要进行的各种试验，包括筛选、例行试验、鉴定检验、质量一致性检验等川。这些试验对元器件的质量有重要影响，可以将不合格的元器件淘汰。这里进行的试验可以是整个过程的试验如筛选，也可以是过程中的某一个试验，如筛选试验中的热冲击试验全直
4、数据采集
必须对试验前后的元器件进行所需数据的采集，数据必须真实有效，而且要及时，不要等试验对该工序的影响已经失效(某些试验是有时效性的)才进行。试验对工序影响的评价基础是数据，而只有真实可靠的数据才会真正体现该工序的能力。
5、工序能力评价C二技术
只有对工序进行评价，才能得到工序能力指数，从而为进一步体现可靠性试验对该工序的影响做出判断，全而地体现试验对电子元器件的影响。其评价的流程如图to
二、气计算公式
进行评价中的另一重点是C、的计算。我们进行评价的C：、计算公式可选择下而两个公式中的任何一个来计算。http://www.zhushanzz.com
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