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紫外线老化试验箱的电荷密度

2014-1-14    来源：正航仪器    作者：正航网络  阅读：次

 

                

同时，紫外线老化试验箱由实验数据还可得出浅陷阱和深陷阱的陷阱电荷密度，可看出随着加33 压时间增长深浅陷阱电荷密度均增加。计算的陷阱电荷密度的数量级和文献中较一致。

根据我们提出的模型，可得到浅陷阱和深陷阱电荷密度n10，n20由此看出陷阱电荷密度与对应的参数A，N，以及k有关，并是时间t 的函数。根据PEA试验测量和数值计算可确定A、N和k等参数，从而得出陷阱电荷密度和陷阱密度的关系。

 

显而易见，在本文的LDPE样本中，浅陷阱电荷密度多于深陷阱电荷密度，这与上一节讨论的深浅陷阱能级分布一致。并与已有文献对HDPE、XLPE及LDPE等材料陷阱能级对比研究结果一致。

同时，紫外线老化试验箱可看出陷阱电荷密度也反应了对应的深浅陷阱密度，加压过程可忽略入陷过程中的热脱陷作用，在一定加压时间作用后，式（3.14）、（3.15）中的指数项近似为零，认为N1、N2在数值上与对应的n10和n20成正比关系。因此，空间电荷测量可作为研究材料陷阱捕获特征有效并灵敏的一种手段。不同的材料以及材料不同条件（如老化前后）下会呈现不同的陷阱特征，这些特征可能并不能通过常规的化学方法如拉曼光谱分析得到，但却可以通过空间电荷测量及对应的数值计算分析得到。下表给出了根据两水平能级陷阱模型中的陷阱参数计算结果。http://www.zhushanzz.com

 

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